Сотрудницу выксунского завода Объединенной металлургической компании (ОМК) Ирину Рыбальченко признали лучшим металлографом страны на V Международной научной премии «Аксалит 2023». Сотрудница ОМК победила со своей научно-практической работой, посвященной неметаллическим включениям и качеству сварных швов.
В основе работы Ирины двухлетние исследования, которые она проводила совместно с компанией «Тиксомет». В результате на заводе ОМК в Выксе создали программное обеспечение, которое позволяет автоматически выявлять и классифицировать дефекты с неметаллическими включениями. Разработка позволила существенно улучшить качество продукции. Ранее подобных решений на промышленных предприятиях не было. Работу Ирины высоко оценили члены жюри, в числе которых были научные сотрудники ведущих технических вузов страны.
«Наши коллеги участвуют в этой премии с 2018 года, и каждый год становятся либо победителями, либо финалистами. Это показывает высокий уровень подготовки специалистов ОМК в отрасли. Например, в номинации, в которой выиграла Ирина Рыбальченко, свои работы представляли кандидаты технических наук и научные сотрудники, т.е. конкуренция была очень достойной. Тем ценнее результат Ирины. Она – пример человека, который пришел на завод лаборантом и вырос до начальника лаборатории благодаря стремлению развиваться, учиться новому, браться за интересные нестандартные проекты. Мы такое стремление профессионально развиваться всегда поощряем», – отметил директор по качеству выксунского завода ОМК Дмитрий Махров.
Справка
На получение научной премии претендовали 125 человек от 93 компаний и научных институтов. Для участия в конкурсе необходимо было подать практико-ориентированные работы по изучению физических, химических и механических свойств металлов, горных пород и композитных материалов, опубликованные в научных изданиях с 2021 по 2022 год. Работы оценивали в трех номинациях: «Металлография», «Геология», «Композитные материалы». В творческой номинации «Промышленность и искусство» принимали фотографии структур, сделанные с помощью оптического или электронного микроскопа.
